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                测量原理:

                 

                干涉后的红』外光以全反射的角度(例如45度)入射ATR晶体,红外光在晶体表面形成一个衰减式的红外波,被紧密覆盖在晶体表面的样品吸收后,检测器采集反射部分的红外光☆的强度,这种测量方式称为衰减全反射测量,即ATR测量。

                中红外ATR通常选择的晶体材料有金ㄨ刚石(Diamond)、硒化锌(ZnSe)、锗晶体(Ge)、硅晶体(Si)等,因此测量范围因材♂料选择而有所不同。

                ATR满足不同的应用场景,荧飒光学▂可以提供单次测量或多次测量附件。

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                分析对象:

                 

                固体表面、粉末、薄膜、聚合物、沥青、胶状物、油漆】等透射难以测量的样品、非破∩坏测量

                适合机型:

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                便携式红外光谱仪,

                体积紧凑,

                既可户外使◥用,

                也可实验室使用;

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                台式红外光谱仪,

                单样品腔设计,

                既∮可透射测量,

                也可安装ATR等研究√型附件;

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                台式红外光谱仪,

                双样品腔设计,

                透射测量与其他测量方▲式互不干扰,

                切换方便;

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                便携箱一体化红外光谱仪,

                集成度高,

                操作方便;


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